刻完光栅为什么要让氢气跑出来?不跑出来会怎样?
在光纤光栅(FBG)的制作过程中,为了提高石英光纤(尤其是掺锗光纤)的光敏性,通常会在高压、一定温度下将光纤放入氢气腔中进行**高压载氢(Hydrogen Loading)**处理,使游离的氢分子( H_2 )扩散进入光纤纤芯。
在使用紫外激光(UV)刻写完光栅后,必须进行**“脱氢处理”(Hydrogen Unloading / Outgassing)**,通常是通过高温热退火(Thermal Annealing)将残留的、未反应的游离氢分子强制驱赶释放出来。如果不让氢气跑出来,会对光栅的长期稳定性和光学性能产生严重负面影响。
一、 为什么要让氢气跑出来?(不跑出来会怎样?)
如果刻写完光栅后不进行人工脱氢处理,残留的游离氢分子会产生以下三大物理和工程危害:
1. 导致布拉格中心波长( \lambda_B )长期向短波方向漂移
游离的氢分子进入纤芯后,会使光纤纤芯的有效折射率( n_{eff} )上升。在常温环境下,这些未与二氧化硅网络化学键合的氢分子会非常缓慢、自发地向光纤外扩散逸出,这个自然扩散过程在常温下可能持续数周甚至数月。
根据光纤光栅的布拉格公式:
(其中 \lambda_B 为反射中心波长, n_{eff} 为纤芯有效折射率, \Lambda 为光栅周期)
随着氢气在数周或数月内自发逸出,纤芯的 n_{eff} 会持续下降,导致光栅的中心波长 \lambda_B 向短波方向持续地、不可预测地漂移。这会导致传感器在实际测量中完全失去基准,无法用于准确的温度或应变测量。
2. 产生羟基( -OH )吸收损耗,增加光信号衰减
在环境温度升高、紫外线或光纤内强光照射下,残留的游离 H_2 分子会与光纤玻璃网络中的缺陷或二氧化硅键发生化学反应,形成羟基( -OH )。
羟基在近红外波段具有极强的吸收峰,特别是位于 1.38\ \mu\text{m} 和 1.24\ \mu\text{m} 附近的强吸收带。这些吸收谱的边缘(吸收尾)会延伸至光纤通信和光栅传感最常用的 1550\ \text{nm} 波段(C波段),导致光纤的传输损耗剧增、信号严重衰减,使得解调仪无法探测到高信噪比的光栅反射光谱。
3. 热稳定性极差
在使用中,如果遇到高温环境,残留氢气的逸出速度和反应速度都会瞬间加剧,导致光栅波长产生突变或在高温下迅速退化。
二、 脱氢处理的通用工程方法
为了避免上述危害,光纤光栅刻写完成后,通常会立即进行热退火稳定化处理(Thermal Annealing):
- 将刻写好的光栅放置于恒温烘箱中(例如在 80^\circ\text{C} 至 120^\circ\text{C} 的温度下持续烘烤几十小时)。
- 高温可使未反应的游离氢分子迅速、完全地从光纤中扩散释放出来。
- 同时,热退火还能提前消除由于紫外曝光产生的一些不稳定的过渡态折射率变化,从而获得长期光谱特性、中心波长和反射率极其稳定的高品质光纤光栅。
三、 大成永盛(OFSCN®)相关光栅产品技术
针对光栅刻写和退火工艺,大成永盛提供两类不同物理制造工艺的裸光栅产品:
1. 传统紫外光刻写光栅(需要载氢与脱氢)
此类光栅采用传统的紫外光掩模板照射方式刻写。刻写前光纤需经高压载氢,刻写完成后必须进行脱氢与热退火稳定化处理,以确保其长期工作时的波长稳定性,最后再进行聚酰亚胺等材料的重涂覆。
OFSCN® Polyimide Fiber Bragg Gratings / FBG Strings (Bare)
2. 飞秒激光直写光栅(无须载氢与脱氢)
如果您希望彻底避免载氢和脱氢工艺,以及剥除涂覆层带来的机械强度损伤,可选择飞秒激光直写光栅。飞秒激光依靠极高的瞬时功率通过多光子非线性吸收直接改变材料折射率,刻写前完全不需要载氢,因此从物理源头上杜绝了残留氢气逸出和羟基损耗的问题,具备天然的长期波长稳定性和极高的耐温表现。
OFSCN® Standard Femtosecond Fiber Bragg Gratings / FBG Strings (Bare)

