什么是光纤“氢致变色”现象？

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进入核心后，氢分子在1383nm和1550nm频段会造成多少衰减？

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氢分子扩散到光纤纤芯中会导致光衰减增加，这种现象被称为氢致暗化。这是因为氢与二氧化硅玻璃反应生成了 Si-OH 和 Ge-OH 键，这些键在近红外光谱中具有独特的吸收峰。

具体而言：

  • 1383nm 频带： 这是这些 OH 键第一泛频的基本吸收峰。因此，暴露在氢环境中的光纤在此波长频带会经历显著的衰减，使其极易发生氢致暗化。
  • 1550nm 频带： 虽然受 1383nm 频带的影响较小，但由于 OH 吸收的组合泛频和高次谐波，1550nm 区域的衰减仍会增加。具体的衰减程度取决于氢浓度、温度、暴露时间和光纤的具体组成，但通常低于 1383nm 处的衰减。

为减轻氢致暗化的影响，OFSCN 提供了利用其坚固封装技术的解决方案。对于存在氢气渗透风险的环境，我们推荐采用OFSCN® 合金管封装光纤布拉格光栅应变传感器设计的传感器。产品图片如下：