Что такое "уровень шума"? | What is the noise floor?

Откуда на экране берутся эти мелкие помехи?

На экранах измерительных приборов, таких как демодуляторы волоконно-оптических решеток, спектрометры или оптоэлектронные осциллографы, вы можете наблюдать беспорядочные, быстро меняющиеся «зубцы». В физике и оптоэлектронике они называются шумом (Noise). Самая низкая средняя базовая линия, на которой колеблются эти зубцы, — это уровень шума (Noise Floor) системы.

Эти «зубцы» не являются неисправностью прибора, а вызваны случайными движениями микрочастиц и флуктуациями энергии в оптоэлектронной системе. Их физические источники можно свести к следующим трем уровням:


I. Оптические источники шума (Optical Noise)

  1. Шум относительной интенсивности источника света и шум спонтанного излучения (ASE Noise)
    Оптическая мощность любого физического источника света (например, широкополосного источника со сверхлюминесцентным диодом с когерентным излучением или перестраиваемого полупроводникового лазера внутри демодулятора) не может быть абсолютно постоянной. Вынужденное и спонтанное излучение фотонов на микроскопическом уровне имеет случайные фазовые и интенсивные возмущения, вызывая незначительные флуктуации в выходном спектре.
  2. Фотонный дробовой шум (Shot Noise)
    Свет обладает корпускулярно-волновым дуализмом. В микроскопическом масштабе процесс достижения фотонами поверхности фотодетектора следует распределению Пуассона. Эти квантовые случайные флуктуации фотонного потока преобразуются в флуктуации электрического сигнала. Среднеквадратичный ток шума дробового шума пропорционален квадратному корню из среднего тока I , а именно \sqrt{I} .

II. Электрические источники шума (Electrical Noise)

Даже при отсутствии входного светового сигнала (например, если оптический канал демодулятора не подключен) экран будет заполнен «зубцами». В основном это происходит из-за электрического шума:

  1. Тепловой шум (Thermal Noise / Johnson-Nyquist Noise)
    Пока температура выше абсолютного нуля, электроны внутри проводника совершают хаотичные тепловые движения. Эти тепловые движения вызывают случайные флуктуации напряжения на эквивалентных сопротивлениях детектора и последующих усилителей. Среднеквадратичное напряжение шума составляет:
    v_n = \sqrt{4 k_B T R \Delta f}
    где k_B — постоянная Больцмана, T — абсолютная температура, R — эквивалентное сопротивление, \Delta f — полоса пропускания измерительной системы.
  2. Шум темнового тока (Dark Current Noise)
    Фотодетекторы (например, PIN-фотодиоды) в темноте, без какого-либо освещения, из-за термической активации носителей заряда внутри полупроводникового материала все равно генерируют слабый темновой ток. Случайные флуктуации темнового тока также напрямую проявляются как зубцы уровня шума.
  3. Шум предусилителя (Amplifier Noise)
    Слабый фототок, генерируемый детектором (обычно в диапазоне от наноампер \text{nA} до микроампер \mu\text{A} ), должен быть усилен трансимпедансным усилителем (TIA). В процессе этого усиления полупроводниковые компоненты внутри усилителя вносят дополнительный фликкер-шум ( 1/f шум) и тепловой шум.

III. Шум оцифровки и окружающей среды

  1. Шум квантования (Quantization Noise)
    При преобразовании аналогового электрического сигнала в цифровой сигнал с помощью аналого-цифрового преобразователя (АЦП) и отображении его на экране, возникает ограничение разрешения АЦП (например, 16-бит или 24-бит). «Ошибка округления» в процессе дискретного дискретизации вносит эквивалентный белый шум.
  2. Электромагнитные помехи (EMI)
    Пространственное электромагнитное излучение в рабочей среде прибора (например, помехи от сетевой частоты 50 Гц, внешние радиочастотные сигналы и т. д.), а также высокочастотные тактовые сигналы внутренних цифровых схем прибора, если они проникают в аналоговый фронт-энд, могут еще больше увеличить амплитуду зубцов на экране.

Проявление в реальных приложениях (на примере демодулятора волоконно-оптических решеток)

Это физическое явление особенно наглядно проявляется при измерении с помощью датчиков на основе волоконно-оптических решеток (FBG). Возьмем в качестве примера демодулятор волоконно-оптических решеток OFSCN® (Fiber Bragg Grating Interrogator):

  1. При неподключенном канале:
    Если к демодулятору не подключен ни один датчик, на экране спектра программного обеспечения демодулятора отображается кривая с зубцами на очень низком уровне (обычно от -65\text{ dBm} до -80\text{ dBm} , в зависимости от шумовой эквивалентной мощности встроенного фотодетектора системы), которая быстро дрожит. Это физический электрический уровень шума, образованный совокупностью теплового шума детектора, темнового тока и шума квантования АЦП.

  2. При подключенном датчике FBG:
    Когда датчик FBG подключен к системе, пиковая оптическая мощность отраженного пика (обычно от -30\text{ dBm} до -50\text{ dBm} ) значительно превышает уровень шума. В этом случае базовая линия по обе стороны от формы отраженного пика по-прежнему будет заполнена мелкими зубцами.

    Демодулятор волоконно-оптических решеток OFSCN® (Fiber Bragg Grating Interrogator) с помощью встроенного фотодетектора с широким динамическим диапазоном и оптимизированной схемы фронт-энда способен подавлять уровень шума до чрезвычайно низкого значения. В то же время, его сопутствующее программное обеспечение, путем установки соответствующего порога фильтрации (Threshold), может автоматически отфильтровывать «зубцы» уровня шума и использовать алгоритмы центроиды или гауссовой аппроксимации для высокоточного определения пика отражения, тем самым извлекая стабильные данные измерений длины волны с разрешением до 0.1\text{ pm} или 1\text{ pm} в физически зашумленном мире.

Заключение

Постоянно скачущие мелкие зубцы на экране являются проекцией законов термодинамики и квантовой механики природы на макроскопические измерительные приборы. Превосходный инжиниринг системы (такой как хорошее электромагнитное экранирование, проектирование малошумящих усилителей и точная фильтрация алгоритмами) как раз и осуществляется путем контроля и изоляции этих источников шума, чтобы постоянно снижать уровень шума и тем самым повышать точность и пределы измерений.